K型熱電偶在250℃—600℃溫度范圍內(nèi)使用時，由于其顯微結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，形成短程有序結(jié)構(gòu)，因此將影響熱電勢值而產(chǎn)生誤差，這就是所謂的K狀態(tài)[3]。它是Ni—Cr合金特有的晶格變化，當Cr含量在5—30%范圍內(nèi)存在著原子晶格的有序 無序轉(zhuǎn)變。由此而引起的誤差，因Cr含量及溫度的不同而變化。將K型熱電偶從300℃加熱至800℃，每50℃取一點，測量該點電勢。在450℃時偏差最大可達4℃，在350—600℃范圍內(nèi)，均為正偏差。由于K狀態(tài)的存在，使K型熱電偶在升溫或降溫檢定結(jié)果不一致，故在廉金屬熱電偶檢定規(guī)程中明文規(guī)定檢定順序：由低溫向高溫逐點升溫檢定。而且在400℃檢定點，不僅傳熱效果不佳，難以達到熱平衡，而且，又恰好處于K狀態(tài)誤差最大范圍。因此，對該點判定合格與否時應(yīng)很慎重。

　　Ni—Cr合金短程有序結(jié)構(gòu)變化的現(xiàn)象，不僅存在于K型，而且，在E型熱電偶正極中也有此現(xiàn)象。但是，作為變化量E型熱電偶僅為K型的2/3?？傊?，K狀態(tài)與溫度、時間有關(guān)，當溫度分布或熱電偶位置變化時，其偏差也會發(fā)生很大變化。故難以對偏差大小作出準確評價。

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